《一种 XRD 测试用可控升温装置》实用新型专利为公司自主研发并已应用。
该专利提供一种用于 XRD 测试的可控升温样品台装置,该装置包含控温样品托架
位 XRD 测试,简单易操作方便,明显提高了测试效率并减低测试所需硬件成本。
开关能实现多组设备同时投切,同时具有结构相对比较简单,故障率较低,使用起来更便捷的优点。
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