基于LabWindows／CVI的测试性验证与评估方法

　　性设计的好坏直接影响了它在使用的过程中出现故障时的诊断效率，对装备质量进行考核和评估时，应用于实践，可提高准确率，缩短时间，在工程和实践中具备极高的使用价值。

　　测试性是装备的一种设计特性，测试性的好坏直接影响了装备性能的高低以及在使用的过程中出现故障时检测时间的长短。改善测试性是改进电子装备系统模块设计，提高性能，简化维修保障工作和提高效费比的最有效途径。在对装备质量进行考核时，测试性指标是很重要的方面。目前，对测试性的验证评估缺乏科学有效的措施和方法，还没有统一的系统标准。本文分析现有的测试性验证评估方法，使用更加合理的超几何分布法。该方法不仅需要的样本量较少，而且准确率更高，缩短了时间，是一种更有效的方法。根据这一理论方法指导，使用更人性化的LabWindowsCVI编程语言，进行界面设计和编程实现，将其应用到工程实践中去。

　　测试性这一术语是1975年首先由F．Liour等人在《设备自动测试设计》一文提出的，随后相继用于诊断电路设计及研究等所有的领域。测试性是指能及时准确地确定其状态(可工作、不可工作或性能降低)并隔离其内部故障的一种设计特性。对装备战备完好性、任务成功性、寿命周期及维修人力具有非常明显的影响。在系统研制的不同阶段应分别实施测试性分析、设计和验证，保证系统具有所要求的测试性。由于现有的装备大部分未展开测试性设计及验证，而且设计之前也没考虑测试性问题，所以测试性较差，出现故障时所需要的检测时间太长，检测准确率较低。因此，应更加注意装备在研制之前的测试性设计，将合适的测试性设计的具体方案应用于每个系统或设备的初步设计中，对选用的测试性设计的具体方案进行定性分析和评价，保证能达到所要求的测试性水平。为确定装备是不是满足规定的测试性要求，需要对测试性做验证。检验其测试性是否合乎要求，掌握装备检查发现异常的能力、检测和隔离故障的能力及用于预计测试性指标模型的有效性等。

　　(1)故障检验测试率(FDR)：一般定义是在规定的时间内，通过给定测点能够在规定上班时间T内正确检测到故障数ND与规定上班时间T内出现故障总数NT之比，用百分数表示。数学公式为：

　　(2)故障隔离率(FIR)：在规定时间内，通过电路所提供的测点能够在规定条件下用规定方法使正确隔离刀小于等于L个可更换单元的故障数NL与同一时间内检测到的故障数ND之比，用百分数表示。数学公式为：

　　(3)虚警率(FAR)：规定上班时间内，发生虚警数NFA与同一时间内的故障检测总数之比，当通过测点检测到被测单元有故障，而实际上该单元没发生故障。数学公式为：

　　式中：NF为真实故障检验测试数。由于虚警率的产生因素较多，包括电路本身、外因、人的因素等。所以在来测试验证时，一般会用故障检验测试率和故障隔离率。